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    发表日期:2023/07/27 浏览次数:

    分析硫化铜钼矿的应用方案

    硫化铜钼矿作为常见的硫化铜矿之一,有用成分除铜物外,还含有辉钼矿。硫化铜矿及其精矿质量高低直接影响铜产品的技术经济指标,因此针对其选矿流程样品中铜、钼、铁、硫、硅、钙等主成分的分析往往需要若干传统方法的组合,其操作流程繁琐冗长。

    利用X射线荧光光谱(XRF)法线性范围宽、精密度高、分析速度快的特点则可有效解决这一难题。
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    波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus III+


    本文介绍使用波长色散X射线荧光光谱仪 ZSX Primus III+分析硫化铜钼矿的主要成分。


    1仪器与试剂

    仪器:

    波长色散型X射线荧光光谱仪 ZSX Primus III+


    试剂:

    四硼酸锂与偏硼酸锂混合熔剂

    脱模剂(LiBr)分析纯

    氧化剂(LiNO3)分析纯


    2实验步骤

    取0.4g样品,1.0g混合熔剂,2.0g氧化剂混合均匀后,再均匀覆盖5.0g混合熔剂,在熔样机中以650℃预氧化后升温至1050℃熔融,加入适量脱模剂后制成玻璃样片,于荧光光谱仪上进行测定。



    3标准样品选择


    将铜矿石、钼矿石国家标准物质精矿样品与原矿样品以不同比例混合,以配制具有一定含量梯度的校准样品序列,各成分含量范围如下:

    1111.png

    标准样品及人工配置校准样品中

    各成分含量范围



    4方法检出限


    根据公式:

    222.png

    S为灵敏度(kcps/%),rb为背景计数率(kcps),tb为背景测定时间(s),可得方法检出限。

    3333.png



    5方法精密度


    按上述实验步骤熔融GBWO7144和 GBW07266等比例混合的样品并进行测定( n=10),统计测量结果,计算各成分的相对标准偏差如下:

    4444.png

    6总结


    采用波长色散X射线荧光光谱仪ZSX PrimusIII+,建立了涵盖硫化铜钼矿石选矿流程样品中主成分分布的熔融制样——XRF分析方法。


    Cu、Mo、Fe、S、SiO2 精密度小于1.0 %,检出限满足日常分析要求。


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